光子无源晶片的制造是否存在改进空间?

光子无源晶片的制造是否存在改进的空间?设计是在纽约州立大学奥尔巴尼分校纳米科学与工程学院的制造设施中的300毫米晶圆上制造的。光子无源晶片制作在1.5m厚二氧化硅下包层毯的硅片上,以整个CMOS后端介质堆作为包层,在与电子器件集成之前,制备了用于光子学过程优化的部分流晶片,对于全流晶片,深光子沟槽首先在硅衬底上蚀刻沟槽,然后通过化学气相沉积填充二氧化硅,然后进行平面化步骤。

然后,在制造光子器件之后,再进行220nm光子多晶硅层的沉积、退火和平面化。使用两个反应离子蚀刻步骤,一个完整的和一个部分,条带和脊光子结构形成。接下来是光子中层掺杂植入物。从这里开始,电子学和光子学分享了制造过程的其余部分,包括高掺杂植入物、氮化物衬垫、硅化物的形成和金属化。在此过程中,共有7个金属互连层,其中前4层的光刻分辨率小于100nm。

1、如何使用示波器测试利萨如图形?

1、将示波器置于XY工作方式,被测信号输入Y轴,标准频率信号输入“X外接”,慢慢改变标准频率,使这两个信号频率成整数倍时,就会在荧光屏上会形成稳定的李萨如图形。2、二个信号一个加在y轴,一个加在x轴,数一下横向或纵向眼孔数,眼孔数就是它们的频率比值。横向眼孔多就是横向频率高,反之就是y轴信号频率高。拓展资料:1、利萨茹(Lissajous)曲线(又称利萨茹图形、李萨如图形或鲍迪奇(Bowditch)曲线)是两个沿着互相垂直方向的正弦振动的合成的轨迹。

2、借由使用利萨茹图形可以测量出两个信号的频率比与相位差。在电工、无线电技术中,常利用示波器来观察利萨如图形,并用以测定频率或相位差。3、利萨茹曲线由以下参数方程定义:xasintybsin(nt+φ)其中,0≤φ≤π/2,n≥1。n称为曲线的参数,是两个正弦振动的频率比。

示波器调波形的方法(以数字示波器为例)。对于常规测量,接好信号以后,按一下“autoset”键,示波器会自动设置,波形就可以稳定。如果这时没有稳定显示,可以先调整触发电平,这样的话,大多数波形已经能够稳定显示了。如果还没有稳定的话,就需要进行一些特殊手段了,例如:“峰值检测”、“释抑”、“脉宽触发”、“欠幅触发”等等,具体需要哪一种手段,需要根据波形来调整。2、示波器如何接

问题一:如何连接示波器?示波器有一般有双通道的和四通道的,配件里面有和通道数目相同的示波器探头,当你想测试电路那部分信号时,先用探头的接地线(一般是鳄鱼夹)连接电路的“地”,然后用探针或探钩连接信号输出端,调节示波器各个功能档位就可以观察信号了,如果你用的是数字示波器,上面有一个“AUTO”键,直接按这个键,一般的信鼎都能测试出来。

问题二:示波器探头怎么接探头有一条地线和一条信号线,地线就是和示波器输入端子外壳通的那一条,一般是夹子状的,信号线一般带有一个探头钩,连接的话你把示波器地线接到你设备的地,把信号线端子接到你的信号端,注意如果要测量的信号和市电没有隔离,则不能直接测量。问题三:示波器探头怎么接?回答你这个问题最好的方法还是以一个探头的实际例子来说,如下图,是一个致远电子示波器常用的探头,通常称为带补偿的高阻无源探头:该探头带有一个夹子,一个表笔,末端直接接入示波器通道即可。

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